Chương trình  của Hội thảo được tham dự các bài giảng của  Giáo sư Rose – Noelle Vannier  đến từ  Pháp và Tiến sĩ  Tony  Wang đến từ Singapore: Các bài giảng tập trung vào các chủ đề:

- Cấu trúc tinh thể

        -  Đối xứng và các nhóm không gian

        -  Nhiễu xạ tia X

        - Thiết bị đo nhiễu xạ tia X

        - Phân tích nhiễu xạ tia X

Trực tiếp thao tác phân tích nhiễu xạ tia X với phần mềm Fullprof Suite bao gồm:

        -  Mô phỏng hình dạng đỉnh và xác định nền của mẫu

        -  Chính xác hóa cấu trúc Rietveld

        -  Chính xác hóa các pha

        -  Phân tích định lượng

        -  Phân tích độ biến dạng và kích thước tinh thể

      Đồng thời Hội thảo nghe các báo cáo và tham dự poster, ngoài ra các thành viên tham dự đi thăm  phòng nghiên cứu nhiễu xạ tia X tại Khoa Khoa Tự nhiên, Đại học Kasetsart.

          Qua việc tham dự hội thảo, giảng viên được nâng cao về khả năng đo đạc, phân tích cấu trúc vật liệu trên máy nhiễu xạ tia X. Đây là thiết bị đã được trang bị cho phòng thí nhiệm Vật liệu điện tử tại Khoa KTCN. Nhiễu xạ tia X được sử dụng rộng rãi nghiên cứu tính chất của vật liệu, xi măng, khoáng sản và quặng...  Việc tham dự các Hội thảo Quốc tế sẽ giúp giảng viên Nhà trường nâng cao kiến thức, kỹ năng, tiếp cận với các kiến thức công nghệ mới, cũng như nâng cao khả năng ngoại ngữ và làm việc trong môi trường quốc tế.

MỘT SỐ HÌNH ẢNH THAM DỰ HỘI THẢO

Hình 1: GS.TS. Supa Hannongbua- trưởng khoa Tự nhiên khai mạc Hội thảo

Hình 2: GS.TS. Rose - Noelle Vannier tại buổi thuyết trình

Hình 3: TS. Tony Wang- chuyên gia hãng Brucker, Singapore

Hình 4: Thiết bị nhiễu xạ tia X trang bị cho phòng thí nghiệm Vật liệu điện tử, Khoa KTCN

                                                                                          Tin bài: GV. Nguyễn Lê Thi